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DIN 50158-1

Metallische Werkstoffe - Härteprüfung mit tragbaren Härteprüfgeräten, die mit elektrischer Eindringtiefenmessung arbeiten - Teil 1: Prüfverfahren

Metallic materials - Hardness testing with portable measuring instruments operating with electrical penetration depth - Part 1: Test method

DIN 50158-2

Metallische Werkstoffe - Härteprüfung mit tragbaren Härteprüfgeräten, die mit elektrischer Eindringtiefenmessung arbeiten - Teil 2: Prüfung und Kalibrierung der Härteprüfgeräte

Metallic materials - Hardness testing with portable measuring instruments operating with electrical penetration depth - Part 2: Verification and calibration of the testing devices

DIN 50159-1

Metallische Werkstoffe - Härteprüfung nach dem UCI-Verfahren - Teil 1: Prüfverfahren

Metallic materials - Hardness testing with the UCI method - Part 1: Test method

DIN 50159-2

Metallische Werkstoffe - Härteprüfung nach dem UCI-Verfahren - Teil 2: Prüfung und Kalibrierung der Härteprüfgeräte

Metallic materials - Hardness testing with the UCI method - Part 2: Verification and calibration of the testing devices

DIN 50162

Prüfung plattierter Stähle; Ermittlung der Haft-Scherfestigkeit zwischen Auflagewerkstoff und Grundwerkstoff im Scherversuch

Testing of clad steels; determination of shear strength between cladding metal and parent metal in shear test

DIN 50280

Laufversuch an Radialgleitlagern; Allgemeines

Running Test on Radial Plain Bearings; General

DIN 50282

Gleitlager - Tribologisches Verhalten von metallischen Gleitwerkstoffen - Kennzeichnende Begriffe

Plain bearings - Tribological behaviour of metallic antifriction materials - Significant terms

DIN 50450-2

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen - Teil 2: Bestimmung der Sauerstoffverunreinigung in Stickstoff, Argon, Helium, Neon und Wasserstoff mittels einer galvanischen Messzelle

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 2: Determination of Oxygen impurities in Nitrogen, Argon, Helium, Neon and Hydrogen using a galvanic cell

DIN 50450-9

Pr&uuml;fung von Materialien f&uuml;r die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Verunreinigungen in Tr&auml;ger- und Dotiergasen - Teil 9: Bestimmung von Sauerstoff, Stickstoff, Kohlenstoffmonooxid, Kohlenstoffdioxid, Wasserstoff und C<(Index)1>-C<(Index)3>-Kohlenwasserstoffen in Chlorwasserstoff mit Gaschromatographie

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 9: Determination of oxygen, nitrogen, carbonmonoxide, carbondioxide, hydrogen and C<(Index)1>-C<(Index)3>-hydrocarbons in gaseous hydrogen chloride by gaschromatography

DIN 50451-3

Pr&uuml;fung von Materialien f&uuml;r die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Elementspuren in Fl&uuml;ssigkeiten - Teil 3: Bestimmung von 31 Elementen in hochreiner Salpeters&auml;ure mittels ICP-MS

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Determination of 31 elements in high-purity nitric acid by ICP-MS

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