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DIN EN 60749-44

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen (IEC 60749-44:2016); Deutsche Fassung EN 60749-44:2016

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (IEC 60749-44:2016); German version EN 60749-44:2016

DIN EN IEC 60751

Industrielle Platin-Widerstandsthermometer und Platin-Temperatursensoren (IEC 60751:2022); Deutsche Fassung EN IEC 60751:2022

Industrial platinum resistance thermometers and platinum temperature sensors (IEC 60751:2022); German version EN IEC 60751:2022

DIN EN 60754-1

Prüfung der bei der Verbrennung der Werkstoffe von Kabeln und isolierten Leitungen entstehenden Gase - Teil 1: Bestimmung des Gehalts an Halogenwasserstoffsäure (IEC 60754-1:2011 + Corrigendum Nov. 2013 + A1:2019); Deutsche Fassung EN 60754-1:2014 + A1:2020

Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 1: Determination of the halogen acid gas content (IEC 60754-1:2011 + corrigendum Nov. 2013 + A1:2019); German version EN 60754-1:2014 + A1:2020

DIN EN 60756

Videobandgeräte für den Gebrauch außerhalb des Rundfunks; Zeitbasisstabilität (IEC 60756:1991); Deutsche Fassung EN 60756:1993

Non-broadcast video recorders; time base stability (IEC 60756:1991); German version EN 60756:1993

DIN EN IEC 60757

Kennbuchstaben für die Bezeichnung von Farben (IEC 60757:2021); Deutsche Fassung EN IEC 60757:2021

Code for designation of colours (IEC 60757:2021); German version EN IEC 60757:2021

DIN EN IEC 60754-3

Prüfung der bei der Verbrennung der Werkstoffe von Kabeln und isolierten Leitungen entstehenden Gase - Teil 3: Messung eines niedrigen Halogengehalts durch Ionenchromatographie (IEC 60754-3:2018); Deutsche Fassung EN IEC 60754-3:2019

Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 3: Measurement of low level of halogen content by ion chromatography (IEC 60754-3:2018); German version EN IEC 60754-3:2019

DIN EN 60749-38

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher (IEC 60749-38:2008); Deutsche Fassung EN 60749-38:2008

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008); German version EN 60749-38:2008

DIN EN 60749-33

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung (IEC 60749-33:2004); Deutsche Fassung EN 60749-33:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave (IEC 60749-33:2004); German version EN 60749-33:2004

DIN EN 60749-34

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung (IEC 60749-34:2010); Deutsche Fassung EN 60749-34:2010

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2010); German version EN 60749-34:2010

DIN EN 60749-35

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik (IEC 60749-35:2006); Deutsche Fassung EN 60749-35:2006

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006); German version EN 60749-35:2006

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